Optical characterization of graphene multi-layers on SiO2

Abstract

El grafeno es un material revolucionario que ha traido numerosas aplicaciones modernas en muchos campos de la industria. Adicionalmente, presenta algunas propiedades que lo llevan a ser usado en algunos dispositivos electrónicos. Cómo consecuencia, el poder de controlar sus propiedades, que depende en mayor parte de la síntesis, es considerado un factor importante en su eficiencia. Para estos propósitos, la caracterización de este material es extremadamente importante porque entre todos estas caracteristicas que podemos analizar, el número de capas va a determiner algunas propiedades principales sobre el material. Así, con el fin de identificar el número de capas de una hojuela de grafeno, es necesario aplicar dos importantes técnicas. En general, existen varios métodos de caracterización que nos pueden ayudar a completer esta tarea, sin embargo en este trabajo vamos a implementar dos de ellas. Estas ténicas son análisis de contraste óptico y espectroscopía de Raman. Although the optical contrast analysis is considered the simplest technique to determine the number of layers of 2D materials, it is very easy to use due to the employment of free software (ImageJ) accompanied with good results. Aunque el análisis de contraste óptico es considerado la técnica más sencilla para determinar el número de capas de materiales bidimensionales, es muy fácil de emplear debido a el uso de un software de libre acceso llamado ImageJ y acompañado de resultados precisos. Por otra parte, la espectroscopía de Raman podría ser complicado de implementar porque es difícil de diferenciar entre dos o mas capas presentes en el material y requiere equipo de laboratorio complejo. A pesar de eso, la espectroscopía de Raman será utilizada en este trabajo para complementar los resultados obtenidos del análisis de contraste óptico. El principal objetivo de este trabajo es ser capaz de identificar el número de capas usando el método de análisis de contraste óptico y que pueda ser reproducible en cualquier computadora debido al software de libre acceso que empleamos aquí. Por lo tanto, este trabajo contribuirá en la determinación de número de capas para cualquier material bidimensional hacienda el uso de este simple método presentado aquí.